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原子力显微镜

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红外散射式扫描近场原子力显微镜 IR-SNOM
    发布时间: 2026-03-16 16:57    

SNOM = Atomic force microscope (AFM)+ Laser

可与各种传统光谱技术相结合,实现高空间分辨率的光谱测量。

1. 通过纳米针尖尖端的场增强效应,扫描近场光学显微镜可以获得远于传统光学显微镜的空间分辨率(~10nm);与其它光谱技术相结合可实现纳米尺度上各种光谱的采集。 

2. 扫描近场光学显微镜适合于研究纳米尺度上光与物质的相互作用,可用于表征低维材料中的极化激元波的传播行为、探测材料中的纳米缺陷等。


红外散射式扫描近场原子力显微镜 IR-SNOM

产品完善中,图片为示意图。