太赫兹散射式扫描近场原子力显微镜 THz Snom
THz-SNOM(是集成原子力显微镜(AFM)与太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术的超高分辨率光学显微镜,该系统面向半导体检测分析、生物纳米成像领域,可进行太赫兹近场成像、成谱研究。THz-TDS系统为全光纤光路,可从SNOM移除,作远场THz时域光谱仪独立使用,便捷安装。可实现 1D(趋近曲线)、2D(AFM/s - SNOM 图像)、3D 扫描。
典型应用——赋能半导体:分析半导体器件载流子浓度测定
太赫兹近场信号对中高浓度范围(1015~1019 cm-3)的载流子分布具有较好的区分度
典型应用——赋能量子器件研究
光学天线、光子晶体、超材料、拓扑绝缘体、石墨烯等二维材料的表面等离子体共振,量子点和纳米线的量子性质都可以通过太赫兹近场成像来进行研究。
典型应用—— 赋能生物医药
人体乳腺癌细胞的纳米级三维形貌成像
