基础型原子力显微镜 Basic AFM
产品特点：
主机集成化设计，与控制箱分开，外形结构简单。
扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强。
采用精密探针定位模块，更换探针简单方便。
采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描。
压电陶瓷自动探测的智能进针方式，保护探针及样品。
高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域。
高清正视和侧视显微成像装置，无需调焦，实时观测与定位：激光光斑位置，样品扫描区域，探针与样品的接近状态。
高清触摸屏功能：显微图像显示；光学照明亮度调节；激光光斑寻找探针；PSD光斑对中；样品台移动；样品趋近探针。
弹簧悬挂式防震方式，简单实用，抗干扰能力强。
金属屏蔽隔音箱，内置温度、湿度传感器，实时监测工作环境。
模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护。
项 目 | 参 数 | BASIC AFM-S20N | BASIC AFM-S20T | BASIC AFM-S50N | BASIC AFM-S50T |
样品尺寸 | 最大直径70 mm，厚度20 mm | √ | √ | √ | √ |
样品台行程 | 20×20mm | √ | √ | / | / |
30×30mm | / | / | √ | √ |
扫描方式 | XYZ三轴全样品扫描 | √ | √ | √ | √ |
XY扫描范围 | 20×20um | √ | √ | / | / |
50×50um | / | / | √ | √ |
Z扫描范围 | 5um | √ | √ | √ | √ |
扫描分辨率 | 横向0.2nm，纵向0.05nm | √ | √ | √ | √ |
扫描速率 | 0.6Hz~30Hz | √ | √ | √ | √ |
扫描角度 | 0~360° | √ | √ | √ | √ |
工作模式 | 接触模式、轻敲模式 | √ | √ | √ | √ |
力谱曲线 | F-Z力曲线、RMS-Z曲线 | √ | √ | √ | √ |
显微成像 | 显微成像：1、正视成像； 2、侧视成像 | √ | √ | √ | √ |
触摸屏 | 显微图像显示；光学照明亮度调节； 激光光斑寻找探针；PSD光斑对中； 样品台移动；样品趋近探针。 | / | √ | / | √ |
7英寸 1024X600 |
减震设计 | 金属屏蔽箱/弹簧悬挂 | √ | √ | √ | √ |
运行环境 | Windows XP/7/8/10操作系统 | √ | √ | √ | √ |
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弹簧悬挂避震
主视显微成像
侧视显微成像
应用案例
