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原子力显微镜

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某某机械设备
Basic AFM基础型原子力显微镜(光学变倍定制款)
    发布时间: 2026-03-15 12:16    

Basic AFM基础型原子力显微镜,包含S20N/S20T/S50N/S50T及光学定位观察定制款五个型号,是纳米材料表面三维形貌表征的高性价比之选。已广泛应用于石墨烯、二氧化钛等材料的表面形貌检测,是科研与实验场景的可靠纳米检测工具。


Basic AFM基础型原子力显微镜(光学变倍定制款)

基础型原子力显微镜  Basic AFM(光学变倍定制款)

产品特点:

主机集成化设计,与控制箱分开,外形结构简单。

扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强。

采用精密探针定位模块,更换探针简单方便。

采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描。

压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品。

高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域。

高清正视和侧视显微成像装置,无需调焦,实时观测与定位:激光光斑位置,样品扫描区域,探针与样品的接近状态。

高清触摸屏功能:显微图像显示;光学照明亮度调节;激光光斑寻找探针;PSD光斑对中;样品台移动;样品趋近探针。

弹簧悬挂式防震方式,简单实用,抗干扰能力强。

金属屏蔽隔音箱,内置温度、湿度传感器,实时监测工作环境。

模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护。

升级光学辅助观察系统,1.2-8倍光学变倍,由电脑控制连续变倍。(定制款)



  

   

BASIC AFM-S20N

BASIC AFM-S20T

BASIC AFM-S50N

BASIC AFM-S50T

样品尺寸

最大直径70 mm,厚度20 mm

      

      

       

       

样品台行程

20×20mm

      

      

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330mm

      /

      /

       

       

扫描方式

XYZ三轴全样品扫描

      

      

       

       

XY扫描范围

20×20um

      

      

       /

       /

550um

      /

      /

       

       

Z扫描范围

5um

      

      

       

       

扫描分辨率

横向0.2nm,纵向0.05nm

      

      

       

       

扫描速率

0.6Hz~30Hz

      

      

       

       

扫描角度

0~360°

      

      

       

       

工作模式

接触模式、轻敲模式

      

      

       

       

力谱曲线

F-Z力曲线、RMS-Z曲线

      

      

       

       

显微成像

显微成像:1、正视成像;

2、侧视成像

      

      

      

      

触摸屏

显微图像显示;光学照明亮度调节;

激光光斑寻找探针;PSD光斑对中;

样品台移动;样品趋近探针。

 

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7英寸 1024X600

减震设计

金属屏蔽箱/弹簧悬挂

      

      

       

       

运行环境

Windows XP/7/8/10操作系统

      

      

       

       



主视显微成像

侧视显微成像


应用案例